BX53P 偏光显微镜

无限远校正的优势UIS2光学系统防止了光学显微镜性能的降低 ，消除了对显微镜光学放大倍数的影响 ，即使在光路中插入偏光元件 ，比如起偏振片 、色板或补偿器 。在保持高水平系统灵活性的同时 ，BX53-P也兼容BX3系列系统显微镜的中间附件 ，以及相机和成像系统 。

ACHN-P和UPLFLN-P物镜中使用的精巧设计和生产技术与显微镜完美结合 。BX53-P偏光显微镜在起偏振片和检偏振片里配备了高EF值滤色片 ，提供了无与伦比的图像对比度 。为满足研究和应用的多样化要求 ，万能型UPLFLN-P系列物镜采用了适用于多种观察方法的设计 ，包括Nomarski DIC和荧光显微镜观察以及偏光观察 。 
* EF（衰减系数）是平行和交叉偏光滤色片之间的亮度比 。EF值越高 ，消光效果就越好 。

BX53-P显微镜可以使用6种不同的补偿器 ，能够测量多种水平延迟 ，范围从0到20λ 。为使测量更容易 ，还提供了直接读数法 。使用Senarmont*或Brace-Koehler补偿器可以获得更高的图像对比度 ，以改变整个视野里的延迟水平 。 
* 与绿色滤色片IF 546或IF 550 。



使用U-CPA锥光镜观察附件后 ，正交偏光和锥光镜观察之间的切换简单而快捷 。锥光镜成像的聚焦轻松而准确 。勃氏透镜视场光阑的使用使其可以持续获取锐利而清晰的锥光图像 。

旋转载物台安装的旋转对中装置能够顺畅地旋转标本 。此外 ，为了实施精确测量 ，每隔45度就有一个咔哒停止装置 。如果增加了双机械载物台 ，还可以进一步完成X-Y的微小移动 。